FIEC presente en Conferencias Internacionales

Entre los días 24 y 26 de mayo de 2017, en la ciudad de San Sebastián - España, se realizó la conferencia “2017 IEEE International Workshop of Electronics, Control, Measurement, Signals and their Applications to Mechatronics - ECMSM 2017”, en la cual la MSc. Patricia Suárez, docente de la FIEC e investigadora del CIDIS, presentó el trabajo titulado “Cross-Spectral Image Patch Similarity using Convolutional Neural Network”. Este trabajo fue realizado con la colaboración de los Dres. Angel Sappa y Boris Vintimilla, docentes de la FIEC e investigadores del CIDIS.

Entre los días 2 y 4 de junio de 2017, en la ciudad de Chengdú - China, se desarrolló la conferencia “2017 International Conference on Deep Learning Technologies - ICDLT 2017”, en la cual el Dr. Miguel Realpe, docente de la FIEC, presentó el artículo científico “An Empirical Comparison of DCNN libraries to implement the Vision Module of a Danger Management System”.